- Способы проверки герметичности полупроводниковых приборов
- КОНТРОЛЬ ГЕРМЕТИЧНОСТИ МАЛОГАБАРИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ В ЗАМКНУТОЙ ОБОЛОЧКЕ
- Курс обучения «Основы течеискания и вакуумной техники» 12–14 октября 2021 года
- Герметизация компонентов и РЭА. Способы контроля герметичности.
- 145844 (Безкорпусная герметизация полупроводниковых приборов), страница 12
- Описание файла
- Онлайн просмотр документа «145844»
- Текст 12 страницы из документа «145844»
- Контроль качества промывки.
- Сушка деталей.
- На производстве применяются следующие виды сушки: воздушная сушка в сушильных камерах, горячая сушка в сушильных шкафах , радиационная сушка, сушка токами высокой частоты.
- Контроль герметичности полупроводниковых приборов.
- Описание технологического процесса.
Способы проверки герметичности полупроводниковых приборов
КОНТРОЛЬ ГЕРМЕТИЧНОСТИ МАЛОГАБАРИТНЫХ ИЗДЕЛИЙ В ЗАМКНУТОЙ ОБОЛОЧКЕ
К малогабаритным изделиям в замкнутой оболочке относятся различные полупроводниковые приборы, микросхемы, многие виды радиодеталей, реле, аккумуляторы, резонаторы и т.п.
Специфика контроля герметичности таких изделий связана с отсутствием доступа к внутренней полости загерметизированных изделий. Вместе с тем методы и способы контроля герметичности должны обеспечивать надежную отбраковку негерметичных изделий, а также в связи с их массовым выпуском — высокую производительность и возможность автоматизации. Подавляющее большинство изделий с замкнутыми оболочками при их производстве заполняются сухим воздухом, по утечке которого можно контролировать герметичность, используя специфическую разновидность пузырькового метода. Способ заключается в погружении изделий в жидкость с высокой температурой кипения, например этиленгликоль. Жидкость нагревают до максимально высокой температуры, допустимой для погружаемых в жидкость контролируемых изделий. Течи обнаруживаются по пузырькам выходящего через них воздуха в результате повышения давления в полости изделия при его нагревании. При температуре 100 . 120 °С регистрируются течи
10 -5 м 3 · Па/с. Такая чувствительность для большинства изделий явно недостаточна.
Для повышения чувствительности способа контроля изделия перед погружением их в высококипящую жидкость опрессовывают при давлении 3 . 5 атм в течение 5 . 20 ч (чем ниже давление опрессовки, тем дольше должно быть время опрессовки) в низкокипящей жидкости, например во фреоне-113 с точкой кипения 47,6 °С. Опрессовку осуществляют следующим образом: открытую кювету наполняют жидким при нормальных условиях фреоном-113; изделия укладывают в кювете, которую размещают в сосуде, выдерживающем высокое давление; сосуд герметизируют, и затем в него подают воздух или инертный газ под высоким давлением.
В процессе опрессовки жидкость через течи проникает в полость негерметичных изделий. Затем изделия погружают в нагретый этиленгликоль. От разогрева корпуса изделия фреон-113 в его полости вскипает и за счет высокой упругости пара вытекает через течи, обеспечивая более интенсивное образование пузырьков. В результате регистрируются течи вплоть до 10 -7 м 3 · Па/с, существенно расширяющие диапазон разбраковки изделий при производственном контроле герметичности. Но и такая чувствительность для многих изделий, например,интегральных микросхем, кварцевых резонаторов и т.п., недостаточна.
Для обеспечения требуемой степени герметичности необходимо использовать специальные пробные вещества, утечку которых можно было бы зарегистрировать с помощью высокочувствительной аппаратуры. Такой аппаратурой, отвечающей названным требованиям, является гелиевый масс-спектрометрический течеискатель. Введение пробного вещества (гелия) в полости изделий непосредственно при их изготовлении является наиболее простым и оптимальным решением, поскольку обеспечивается достаточно высокая чувствительность контроля независимо от объема внутренней полости изделия.
Однако в силу ряда причин введение пробного вещества в изделия при их герметизации не всегда возможно. Поэтому в практике контроля герметичности замкнутых изделий широко распространен способ введения пробного вещества посредством опрессовки изделий перед их контролем. Суть способа состоит в выдержке изделий в среде пробного вещества при повышенном давлении (р0 =3 . 5 атм) в течение определенного времени /0. После опрессовки изделия некоторое время перед контролем выдерживаются на воздухе с целью снижения фоновых сигналов, обусловленных десорбцией пробного вещества с поверхности изделий. При принятых в производстве режимах опрессовок в полость изделия вводится ограниченное количество пробного вещества, но для регистрации малых и средних течей вполне достаточное.
В производстве малогабаритных замкнутых изделий контроль герметичности дополнительным (пузырьковым) методом во избежание закупорки малых течей жидкостью проводится после высокочувствительного контроля.
В качестве дополнительного способа контроля изделий в замкнутой оболочке в связи с их опрессовкой в жидком фреоне- 113 можно принять галогенный метод, расширяющий диапазон регистрируемых течей по сравнению с пузырьковым методом. Но и в этом случае сохраняющийся двойной контроль изделий достаточно трудоемок и сложен.
В конце 80-х гг. прошлого века разработаны два новых метода (магниторазрядный и электронозахватный), позволяющие в едином цикле контроля регистрировать течи в требуемом диапазоне до видимых невооруженным глазом щелей и отверстий. Оба метода сравнительно легко поддаются автоматизации, что очень важно в связи с массовым характером производства малогабаритных изделий в замкнутой оболочке.
Курс обучения «Основы течеискания и вакуумной техники» 12–14 октября 2021 года
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» имени В. И. Ульянова и ООО «ВАКТРОН» приглашают сотрудников предприятий принять участие в курсе повышения квалификации «Основы течеискания и вакуумной техники».
Программа является подготовительным курсом к аттестации персонала в области контроля герметичности по требованиям РОСТЕХНАДЗОР (СДАНК-01-2020, СДАНК-02-2020) и РОСАТОМ ГОСТ Р 50.05.01-2018, ГОСТ Р 50.05.11-2018.
По результатам обучения сотрудник получает удостоверение о повышении квалификации государственного образца по университетской программе дополнительного профессионального образования. Курс проводится согласно лицензии на образовательную деятельность №1103.
Проводимый экзаменационный контроль может быть учтен аттестационным центром для выдачи удостоверения на право подготовки заключений о контроле герметичности. Курс на практике подготовит к квалифицированной эксплуатации и обслуживанию современного вакуумного оборудования.
Занятия будут проходить в очной форме в отеле «Новый Петергоф», Санкт-Петербург, Петергоф, Санкт-Петербургский проспект, 34. Для слушателей семинара действуют специальные цены на бронирование номеров. Мест в группе – 15. Необходима предварительная регистрация. Регистрация участников: 8 (812) 989-04-49 доб.2, Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Актуальная информация в телеграм ВАКТРОН.
Источник
Герметизация компонентов и РЭА. Способы контроля герметичности.
Корпусная герметизация. Корпуса предназначены для защиты элементов и компонентов интегральных схем (ИС) от климатических (влага, газы) и механических воздействий и светового облучения. Корпус обеспечивает эффективный отвод тепла от тепловыделяющих элементов и компонентов микросхемы. Металлический корпус осуществляет также экранирование от воздействия электростатических, а в некоторых случаях и магнитных полей. Корпус имеет выводы, с помощью которых микросхему монтируют на печатную плату. Контактные площадки платы ИС электрически соединены с выводами корпуса.
В зависимости от материалов корпуса делятся на следующие типы: стеклянные, керамические, пластмассовые, металлостеклянные, металлокерамические, металлополимерные, стеклокерамические.
Герметичность корпуса достигается применением непроницаемых для влаги и газов материалов и вакуумплотным соединением этих материалов.
В конструкциях корпусов широко используются соединения металлов с металлами, стеклом, керамикой и полимерами, керамики с керамикой и стеклом, стекла со стеклом и др. Высокотемпературные стекла и керамику обычно соединяют с помощью промежуточного слоя легкоплавкого стекла. Определенные трудности возникают при образовании вакуумплотных соединений металлов с керамикой и стеклом.
В зависимости от конструкции корпуса, применяемых материалов и особенностей микросхемы используют следующие методы герметизации:
1) Cварка (Холодная, ЭКС, Аргонно-дуговая сварка, ТКС, СКИН, сдвоенным электродом, У.З, Роликовая)
2) Пайка (припоями; стеклом;)
5) Герметизация капсулированием
6) Герметизация в вакуум-плотных корпусах.
Опрессовку микросхем осуществляют методом литья под давлением во временные формы компаундов горячего отверждения. Ввиду давления и высокой температуры требуется предварительная защита собранного узла (особенно проволочных перемычек) с помощью компаундов холодного отверждения.
При герметизации капсулированием изделие помещается в корпус (капсулу) выводами наружу. Свободный торец капсулы и выводы заливаются компаундом. При использовании металлических капсул (чаще анодированный алюминий) влагостойкость корпусов резко возрастает, поэтому часто под капсулированием понимается герметизация в металлополимерные корпуса.
Для бескорпусной защиты полупроводниковых структур используются в основном неорганические и органические полимерные материалы. Более высокой надёжностью характеризуются покрытия из неорганических материалов, однако, бескорпусная защита на основе органических материалов гораздо дешевле.
Бескорпусную герметизацию выполняют пропиткой, обволакиванием герметиком, заливкой полимером, а также опрессовкой расплавленным термопластическим или термореактивным материалом.
Обволакивание — наиболее простой способ, при котором каплю герметика наносят на сборку или кратковременно погружают сборку в герметик. Этот способ используют для предварительной защиты изделий перед заливкой или опрессовкой.
Заливку выполняют в специальные многократного использования литьевые формы из силиконовой резины. Заливка может быть свободной или в вакууме.
Литьевое прессование является наиболее совершенным способом создания бескорпусных оболочек, применяемым в серийном производстве. Этот способ основан на использовании разъемных пресс-форм и пресс-порошков, получаемых из эпоксидных и кремнийорганических смол или их композиций.
¾ размещение изделий в специальной пресс-форме,
¾ заполнение индивидуальных полостей с изделиями в пресс-форме герметизирующим расплавленным составом на специальных пресс-установках при сравнительно низких давлениях,
¾ выдержка определенное время под давлением при повышенной температуре для отверждения материала,
¾ извлечение загерметизированных изделий,
¾ удаление литников и облоя.
Контроль качества герметизации
Наиболее точным является радиоактивный метод.При испытании с помощью счетчиков регистрируется интенсивность гамма-излучения газа, вытекающего из корпуса. Вследствие сложности и высокой стоимости этот метод используется только в экспериментальном производстве.
Масс-спектрометрический метод основан на обнаружении гелиевым течеискателем гелия, предварительно введенного в корпус прибора. Применение гелия обусловлено его высокой проникающей способностью (малые размеры молекул). Чувствительность метода определяется чувствительностью течеискателя. Высокая проникающая способность гелия затрудняет обнаружение больших течей, так как к моменту испытания гелий может полностью вытечь из корпуса. Поэтому для образцов, подлежащих испытанию, целесообразно вводить гелий после герметизации, но непосредственно перед испытанием.
При проверке герметичности вакуум-жидкостным методом микросхемы помещают в емкость с керосином или уайт-спиритом, над которым создается разрежение Вытекающий из корпуса газ (непрерывная струйка пузырьков) позволяет определить не только интенсивность, но и место расположения течи
Компрессионно-термический метод отличается от предыдущего тем, что испытуемые микросхемы погружают в нагретое масло. При этом давление газа внутри корпуса повышается и чувствительность метода несколько увеличивается
Дата добавления: 2018-02-18 ; просмотров: 1699 ; Мы поможем в написании вашей работы!
Источник
145844 (Безкорпусная герметизация полупроводниковых приборов), страница 12
Описание файла
Документ из архива «Безкорпусная герметизация полупроводниковых приборов», который расположен в категории «рефераты». Всё это находится в предмете «технология» из раздела «Студенческие работы», которые можно найти в файловом архиве Студент. Не смотря на прямую связь этого архива с Студент, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе «рефераты, доклады и презентации», в предмете «технология» в общих файлах.
Онлайн просмотр документа «145844»
Текст 12 страницы из документа «145844»
Все методы контроля чистоты поверхности, основанные на смачивании водой, неприменимы для контроля чистоты после отмывки в растворителях или их парах, так как поверхность, обрабатываемая в растворителях, гидрофобна и при контроле на смачиваемость дает 100% загрязняемость. Кроме того, этими методами нельзя обнаружить гидрофобные загрязнения, если имеются следы смачивающих поверхностно-активных веществ. В этом случае даже при наличии гидрофобных загрязнений на поверхности будет образовываться непрерывная плёнка воды.
Метод контактной разности потенциалов. Химическая обработка, влияя на локализованный на поверхности заряд, изменяет поверхностные потенциал. Это изменение контролируют по равному изменению контактной разности потенциалов. Измерительная установка состоит из генератора, звуковые колебания которого через электромеханическую систему приводят в колебательное движение динамический конденсатор, одной обкладкой которого является контролируемая пластина, а другой — эталонный электрод. В результате на конденсаторе возникает переменной напряжение, амплитуда , которого пропорциональна разности потенциалов между его обкладками, а значит зависит от состояния поверхности контролируемой поверхности.
Метод радиоактивных изотопов (меченых атомов). Этот метод основан на обнаружении загрязнений, содержащих радиоактивные изотопы, и применяется для оценки эффективности процессов отмывки. Радиоактивные загрязнения специально наносят на отдельные участки или на всю поверхность на отдельные участки или на всю поверхность и после промывки по выбранной технологии их остатки определяют с помощью счётчика Гейгера. Метод обладает очень высокой чувствительностью (в 1000 раз больше , чем методы основанные на смачивании ) и применяются главным образом в лабораторных условиях, так как в производственных условиях трудно обеспечить необходимые меры защиты от радиоактивного излучения.
Метод измерения удельного сопротивления моющих растворов. Этот метод позволяет определить содержание ионных загрязнений в промывочной воде и различных растворителях. В производственных условиях метод измерения удельного сопротивления моющего раствора применяют для контроля длительности процесса отмывки: отмывку ведут до тех пор, пока не будут равны удельные сопротивления раствора на входе в промывочную ванную и на выходе из неё.
Этот метод не позволяет обнаружить нерастворимые или слабо диссоциирующие загрязнения, даёт заниженные результаты, так как некоторые загрязнения лишь частично удаляются с поверхности в процессе отмывки, и не позволяют оценить распределение загрязнений по поверхности, так как даёт информацию лишь об общем количестве растворимых ионных загрязнений.
Контроль качества промывки.
Контроль качества осуществляют с помощью микроскопа . При этом пластины должны быть без пятен, разводов, подтёков. Допускаются одна-две светящиеся точки в тёмном поле микроскопа площадью около 0,6 мм 2 . Гидрофобные загрязнения обнаруживают методом, основанным на изменении угла смачивания поверхности водой. При неудовлетворительном качестве отмывки обработку повторяют.
Такая оценка качества отмывки имеет существенный недостаток: для контроля пластину необходимо извлечь из тары для хранения и поместить на предметный столик микроскопа или установки контроля угла смачивания. Поэтому поверхность пластин при контроле загрязняется в результат контакта с атмосферой.
После отмывки необходимо сразу же передать пластины на следующую операцию, так как при хранении происходит загрязнение их поверхности. Если отмытые пластины необходимо хранить, их поверхность следует защищать от воздействия внешней среды. Так, полимерный комплекс КС-1 позволяет надёжно защищать полупроводниковые пластины от внешней атмосферы в течение достаточно длительного времени (до 10 суток). Кроме того, очищенные полупроводниковые пластины можно хранить в герметичном сосуде с парами фреона.
Сушка деталей.
На производстве применяются следующие виды сушки: воздушная сушка в сушильных камерах, горячая сушка в сушильных шкафах , радиационная сушка, сушка токами высокой частоты.
При воздушной сушке в сушильных камерах детали или заготовки размещают на полках и выдерживают до нескольких суток при нормальной сушке (15–20 С) температуре.
Длительный срок сушки является крупным недостатком воздушной сушки.
Для горячей сушки обычно применяют сушильные шкафы или камеры и конвейерные сушильные установки, обогреваемые паром или электрообогревателями.
В сушильных шкафах с электрическим обогревом детали выдерживают при температуре 65–70 С до постоянства веса. Во избежания растрескивания деталей температуру в сушильных шкафах повышают постепенно.
В конвейерных сушильных установках производят сушку тонкостенных деталей.
Непрерывно действующие конвейерные сушильные установки являются наиболее эффективными для тонкостенных деталей. В таких установках сушка тонкостенных деталей в зависимости от величины и формы длится 2–3 часа.
Радиационная сушка основана на обогреве деталей лучистой энергией, излучаемой раскалёнными телами: нитями ламп, спиралями электронагревательных приборов, металлическими панелями, обогреваемыми газом.
На рисунке показана камера для радиационной сушки. В качестве источника лучистой энергии в камере установлены лампы инфракрасного свечения, расположенные в шахматном порядке под сводом и на боковых стенках камеры.
Радиационная сушка эффективнее конвейерных установок в несколько раз, особенно при сушке плоских изделий с небольшой толщиной стенок.
При сушке токами высокой частоты детали, помещённые между обкладками контурного конденсатора генератора высокой частоты, равномерно прогреваются по всей массе, при этом благодаря быстрому прогреву детали по всей её толщине срок сушки сокращается в несколько раз по сравнению с сушкой нагретым воздухом.
Контроль герметичности полупроводниковых приборов.
Одной из задач герметизации является предотвращение проникновения внутрь корпуса газов из окружающей среды, всегда содержащих влагу. Проникающая в корпус влага растворяет газы и загрязнения, образуя в условиях электрических напряжений электролитические пары. В свою очередь, это приводит к возникновению отказов, выражающихся в шунтирующих утечках, коротких замыканиях и обрывах.
Для полых (газонаполненных) корпусов'» достаточно объективным показателем качества герметизации может служить величина течи из корпуса. Для микросхем, опрессованных пластмассами, необходимо проводить испытания непосредственно в атмосфере с повышенной влажностью. Методы испытания должны одновременно удовлетворять требованиям высокой чувствительности и экономичности.
Наиболее чувствительным является радиоактивный метод (чувствительность 10
8 —5-10″ 9 мкм рт. ст.-л/с). Образцы, подлежащие испытанию, герметизируются в атмосфере сжатого радиоактивного газа (например, Кг 85 ). При испытании с помощью счетчиков регистрируется интенсивность гамма-излучения газа, вытекающего из корпуса. Вследствие сложности и высокой стоимости этот метод может быть рекомендован только в экспериментальном производстве (отработка конструкции корпуса или технологии герметизации).
Масс-спектрометрический метод основан на обнаружении гелиевым течеискателем гелия, предварительно введенного в корпус прибора. Применение гелия 0’бусловлено его высокой проникающей способностью (малые размеры молекул). Чувствительность метода определяется чувствительностью течеискателя (для течеискателя ПТИ-6 Ю- 7 мкм рт. ст.-л/с). Высокая проникающая способность гелия затрудняет обнаружение больших течей, так как к моменту испытания гелий может полностью вытечь из корпуса. Поэтому для образцов, подлежащих испытанию, целесообразно вводить гелий после герметизации, но непосредственно перед испытанием. Для этого герметизированные микросхемы выдерживают в течение нескольких суток в бомбе, заполненной гелием до давления 4 ат. Масс-спектрометрический метод целесообразен только для выборочного контроля.
При проверке Герметичности вакуумно-жидкостным методом микросхемы помещают в емкость с керосином или уайт-спиритом, над которым создается разрежение (10—15 мм рт. ст.). Вытекающий из корпуса газ (непрерывная струйка пузырьков) позволяет определить не только интенсивность, но и место расположения течи. Чувствительность метода 5-Ю- 3 мкм рт. ст.-л/с. Он является весьма распространенным в производстве для выборочного метода контроля. Компрессионно-термический метод отличается от предыдущего тем, что испытуемые микросхемы погружают в нагретое масло. При этом давление газа внутри корпуса повышается и чувствительность метода несколько увеличивается (4-10
Описание технологического процесса.
Ниже приведена блок–схема технологического процесса, характеризующая последовательность проведения технологических операций:
Источник